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產品型號
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廠商性質
經銷商 -
更新時間
2025-04-21 -
瀏覽次數
1192
產品描述
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數的軟件。